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1.雪崩失效（电压失效），也就是我们常说的漏源间的BVdss电压超过MOSFET的额定电压，并且超过达到了一定的能力从而导致MOSFET失效。
2.SOA失效（电流失效），既超出MOSFET安全工作区引起失效，分为Id超出器件规格失效以及Id过大，损耗过高器件长时间热积累而导致的失效。
3.体二极管失效：在桥式、LLC等有用到体二极管进行续流的拓扑结构中，由于体二极管遭受破坏而导致的失效。
4.谐振失效：在并联使用的过程中，栅极及电路寄生参数导致震荡引起的失效。
5.静电失效：在秋冬季节，由于人体及设备静电而导致的器件失效。
6.栅极电压失效：由于栅极遭受异常电压尖峰，而导致栅极栅氧层失效。
